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TDICMOS探测器的暗信号扣除方法

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TDICMOS探测器的暗信号扣除方法，涉及TDICMOS成像技术领域，解决现有暗信号扣除方法，存在导致输出图像的灰度值出现截断，无法显示出细微灰度变化的细节或降低可用的动态范围等问题，在每次摄像前，通过温度传感器的值，更改探测器的ADC偏置值；在摄像中，通过校正系数来进行扣除；首先在预期的工作温度条件下，通过设置探测器的ADC初始值，将输出的DN值的平均值设置为目标值；然后在不同的探测器温度下，测量DN值的变化；根据所使用的行周期长度和积分级数，可以换算出温度变化和总积分时间与DN值变化的映射关系。最终在应用时，根据温度传感器输出的温度值和使用的行周期长度及积分级数，判断输出的DN值变化超过1，才进行输出图像灰度值的整体调整。

著录项

公开/公告号CN114143482A

专利类型发明专利
公开/公告日2022-03-04

原文格式PDF
申请/专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;
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申请/专利号CN202111441236.5
发明设计人余达;吕恒毅;刘海龙;孙雪晨;刘春香;邵帅;赵莹;
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申请日2021-11-30
分类号H04N5/355(20110101);H04N5/361(20110101);H04N5/374(20110101);
代理机构22214 长春众邦菁华知识产权代理有限公司;
代理人朱红玲
地址 130033 吉林省长春市东南湖大路3888号
入库时间 2023-06-19 14:23:39

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2022-03-04

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