• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 中国专利> 基于知识图谱的代码克隆检测优化方法、装置和电子设备

基于知识图谱的代码克隆检测优化方法、装置和电子设备

页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 法律信息
  • 相似文献

摘要

本申请涉及一种基于知识图谱的代码克隆检测优化方法、装置和电子设备。该方法通过获取多个待检测代码片段，并采用预定筛选策略对其对应的候选代码片段集合进行筛选得到对应初始候选代码片段集合；利用知识图谱的知识对初始获选代码片段进行筛选，得到优化后的候选代码片段集合；采用预设克隆检测方法检测每个待检测代码片段与对应的优化后的候选代码片段集合中的每个候选代码片段之间的克隆关系，并根据得到的克隆检测结果构建优化后的克隆知识图谱；根据克隆知识图谱，得到优化后的所有克隆对集合。本方法未对现有克隆检测方法进行修改，不会改变原有克隆检测方法准确度，同时本方法对开发语言没有依赖性，可以适用于现有所有克隆检测方法。

著录项

  • 公开/公告号CN114138330A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国人民解放军国防科技大学;

    申请/专利号CN202111516149.1

  • 发明设计人 王涛;张迅晖;余跃;李志星;张晏芝;钟岩;王怀民;

    申请日2021-12-07

  • 分类号G06F8/75(20180101);G06F16/36(20190101);

  • 代理机构43225 长沙国科天河知识产权代理有限公司;

  • 代理人李杨

  • 地址 410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号

  • 入库时间 2023-06-19 14:23:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-04

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号