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一种低维光电材料的性能测试装置

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本发明公开了一种低维光电材料的性能测试装置，涉及光电材料检测技术领域，解决了现有装置未设置可以对多晶硅薄膜进行弯折疲劳度检测的结构的问题。一种低维光电材料的性能测试装置，包括工作台；所述工作台顶部固定连接有控制部；所述工作台顶部右侧固定连接有稳定台，稳定台顶部通过铰连接设置有往复丝杆；所述工作台顶部左侧固定连接有遮光箱，遮光箱内部设置有光电转换性能检测机构；通过控制往复丝杆持续转动，可以控制两组立架进行相反方向的往复平移，可以使多晶硅薄膜进行往复弯折，通过控制部实时监测薄膜电流情况，可以对多晶硅薄膜进行弯折疲劳度检测。

著录项

公开/公告号CN114136775A

专利类型发明专利
公开/公告日2022-03-04

原文格式PDF
申请/专利权人安徽科技学院;
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申请/专利号CN202111372231.1
发明设计人闫浩然;吴炎淼;赵子默;陈君华;王彦平;郭雨;
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申请日2021-11-18
分类号G01N3/08(20060101);G01N3/20(20060101);G01N3/32(20060101);G01N21/17(20060101);G01B11/30(20060101);
代理机构61239 西安研创天下知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人陈明星
地址 233030 安徽省蚌埠市黄山大道1501号
入库时间 2023-06-19 14:23:39

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2022-03-04

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发明专利申请公布

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