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基于化学修饰的纳米孔对整合素构象检测的方法

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本发明公开了基于化学修饰的纳米孔对整合素构象检测的方法，通过共价修饰构建功能化的纳米孔电学检测通道，配置不同浓度不同离子种类条件的整合素缓冲液样品，在外加偏压条件下检测具有不同构象的整合素穿过纳米孔的电学信息，对电学信息进行分析以实现定量与构象区分检测。本方法制样简单、操作便捷、响应灵敏，通过不同条件的电学信息对比，能够更清晰的呈现整合素的单分子构象信息；还能提供整合素的体积、表面电荷属性、浓度等信息；同时也可以进行单分子穿孔速率调控和特异性检测。

著录项

公开/公告号CN114199971A

专利类型发明专利
公开/公告日2022-03-18

原文格式PDF
申请/专利权人中国科学院重庆绿色智能技术研究院;中国科学院力学研究所;
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申请/专利号CN202111543733.6
发明设计人梁丽媛;张明焜;王德强;吕守芹;吴吉;谢婉谊;李宁;潘君;李荣洁;尹雅洁;翁婷;殷博华;
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申请日2021-12-16
分类号G01N27/327(20060101);
代理机构11308 北京元本知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人黎昌莉
地址 400714 重庆市北碚区方正大道266号
入库时间 2023-06-19 14:34:26

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法律状态
2022-03-18

公开

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