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多功能性半导体光学系统以及光学检测方法

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摘要

本发明公开了一种多功能性半导体光学系统以及光学检测方法，多功能性半导体光学系统包括支架主体、张角切换装置以及变焦式图像捕获装置。支架主体对应设置在检测平台的一侧，具有第一支点以及第二支点。张角切换装置具有固定端，枢设在支架主体的第一支点上、以及活动端，依据控制指令，相对固定端移动。变焦式图像捕获装置设置在倾斜支架上，倾斜支架的一端枢设在支架主体的第二支点上，倾斜支架的另一端枢接在张角切换装置的活动端上，配合活动端控制倾斜支架与支架主体之间的张角，从而自动调整变焦式图像捕获装置对应于检测平台的取像角度。本发明可以适用于各类型产品的产线，相较于现有的光学检测设备具有更高的应用弹性。

著录项

  • 公开/公告号CN114252447A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 由田新技股份有限公司;

    申请/专利号CN202110082093.7

  • 发明设计人 赖宪平;许睿然;

    申请日2021-01-21

  • 分类号G01N21/88(20060101);

  • 代理机构11252 北京维澳专利代理有限公司;

  • 代理人王立民;曾晨

  • 地址 中国台湾新北市中和区连城路268号10楼之1

  • 入库时间 2023-06-19 14:42:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-29

    公开

    发明专利申请公布

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