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基于改进的HALT试验的模拟集成电路可靠性试验方法

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本发明涉及一种基于改进的HALT试验的模拟集成电路可靠性试验方法，包括在常温、最低和最高工作温度对模拟集成电路样品进行电性能测试；依次使环境温度从常温开始向低温工作极限温度和高温工作极限温度步进，并进行在线测试；找到变化幅度最大的参数作为敏感参数，并找出敏感参数变化最大时对应的温度TA；在温度TA对模拟集成电路样品进行温度应力累积试验；在最低和最高工作温度之间进行温度循环试验；在常温下对模拟集成电路样品的敏感参数进行测试，并与之前的测试结果进行对比。本发明中，对传统的HALT试验技术进行改进，能够更准确、高效率地激发出模拟集成电路的潜在缺陷，为产品的设计改进提供依据，提高产品的可靠性水平。

著录项

公开/公告号CN114371393A

专利类型发明专利
公开/公告日2022-04-19

原文格式PDF
申请/专利权人中国电子科技集团公司第二十四研究所;
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申请/专利号CN202210029935.7
发明设计人吴兆希;罗俊;谭骁洪;林震;岑政;李胜玉;余航;
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申请日2022-01-12
分类号G01R31/3181;
代理机构重庆乐泰知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人袁茹坤
地址 400060 重庆市南岸区南坪花园路14号
入库时间 2023-06-19 15:00:50

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法律状态
2022-04-19

公开

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