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锁存器的自测试电路及其自测试方法

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摘要

公开了一种锁存器的自测试电路及其自测试方法。自测试电路包括自测试主控单元和自测试模块。自测试主控单元包括：自测试模块使能逻辑电路，用于产生自测试模块的使能信号；自测试模块测试向量产生电路，用于产生自测试模块的测试向量；存储单元，用于存储自测试模块的测试结果。自测试模块被配置为：根据使能信号选择锁存器自测试子模块进入自测试模式；当被选择进行自测试的锁存器自测试子模块的锁存器输出与测试向量相同时，测试结果为该锁存器自测试子模块的锁存器无故障，否则有故障。本公开的方案实现了采用较少的数字集成测试电路有效提高锁存器的测试覆盖率，解决了锁存器测试的难题。

著录项

  • 公开/公告号CN114460447A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 沐曦集成电路(上海)有限公司;

    申请/专利号CN202110071284.3

  • 发明设计人 李颖;

    申请日2021-01-19

  • 分类号G01R31/317;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 201210 上海市浦东新区祥科路111号2幢6楼

  • 入库时间 2023-06-19 15:15:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-10

    公开

    发明专利申请公布

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