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一种基于X-ray imaging与Sobel-SCN的GIS缺陷检测方法

摘要

本发明公开了一种基于X‑ray imaging与Sobel‑SCN的GIS缺陷检测方法,包括:S1、获取GIS设备X射线图像(X‑ray imaging);S2、对所述图像进行旋转、去噪、增强、二值化预处理;S4、基于Sobel算法提取图像边缘信息;S5、基于数学形态学完善图像边缘轮廓信息;S6、分割图像、标定分割图像重心;S7、构造特征矢量集;S8、采用随机配置网络(Stochastic Configuration Networks,SCN),将归一化后的特征矢量集作为输入,对所述特征矢量集进行分类,实现GIS缺陷识别。本发明将X射线图像处理技术与SCN算法应用与GIS缺陷检测中,替代巡检人员判别GIS是否存在缺陷,可以提高GIS缺陷检测的质量与效率。

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  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-03

    公开

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