• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 中国专利> 使用基准对齐对分析物进行空间分析的系统和方法

使用基准对齐对分析物进行空间分析的系统和方法

页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 法律信息
  • 相似文献

摘要

提供了用于分析物的空间分析的系统和方法。获得一种数据结构，其包含具有标识符、基准标记和一组捕获点的基底上的样品的图像，作为像素值阵列。所述像素值用于标识导出基准点。基底标识符标识具有参考基准点的参考位置和对应的坐标系的模板。使用对齐算法将所述导出基准点与所述参考基准点对齐，以获得所述导出基准点与所述参考基准点之间的变换。所述变换和所述模板对应的坐标系用于将所述图像配准到所述一组捕获点。然后结合与每个捕获点相关联的空间分析物数据来分析所配准的图像，从而执行分析物的空间分析。

著录项

  • 公开/公告号CN115023734A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-09-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 10X基因组学有限公司;

    申请/专利号CN202080094377.1

  • 发明设计人 N·I·韦森菲尔德;N·德什洪扬;P·沙;

    申请日2020-11-18

  • 分类号G06T7/33;G06T7/11;G06T7/136;

  • 代理机构深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人金辉

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-06-19 16:41:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-06

    公开

    国际专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号