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SMD封装高速AOI测试设备的AOI检测系统

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摘要

本发明涉及自动光学检测技术领域，尤其为SMD封装高速AOI测试设备的AOI检测系统，所述外观扫描模块的输出端通过信号连接有外观缺陷检测程序，所述图像处理单元的输出端通过信号连接有质量勘测模块，所述图像处理单元的输出端通过信号连接有色度仪勘验模块。本发明通过图像处理单元对外观扫描模块、质量勘测模块与色度仪勘验模块所采集到的数据进行整理，数据处理单元对外观数据记录模块与质量数据记录模块整理的数据进行处理，再通过存储模块将信息发送到数据接受模块实现系统的信息流转，从而达到了灵活控制整体系统，改善了现有的AOI检测系统在使用的过程中一体式操作的缺陷，加强了工作人员对于信息的甄别率的效果。

著录项

  • 公开/公告号CN115436398A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-12-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京典驰电子科技有限公司;

    申请/专利号CN202210848804.1

  • 发明设计人 张雷;

    申请日2022-07-19

  • 分类号G01N21/956;G01N21/25;G01J3/46;

  • 代理机构深圳博敖专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人姚宗培

  • 地址 211121 江苏省南京市江宁区湖熟街道金阳路20号

  • 入库时间 2023-06-19 17:51:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-06

    公开

    发明专利申请公布

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