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解决测试Pad使用中耐压问题的电路及方法

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摘要

本发明公开了一种解决测试Pad使用中耐压问题的电路；包括：测试Pad模块，包括MOS管；存储器模块与测试Pad模块中MOS管的漏极相连接；有电压转换电路与存储器模块相连接；电压转换电路与测试Pad模块中MOS管的栅极和衬底相连接，调节MOS管栅极和衬底电位，电压转换电路向测试Pad模块输出电压V1，输出至测试Pad中的MOS管栅极和衬底；当测试信号为最高正电压时，调整电压V1的电位到一电压；当测试信号为负电压时，调整电压V1为另一电压。本发明在只有一组测试Pad的前提下，仍然是测试Pad的MOS器件的各端点之间的电压差满足器件的工艺条件，从而顺利完成存储器所需的测试。

著录项

  • 公开/公告号CN101989465B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-04-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹NEC电子有限公司;

    申请/专利号CN200910057702.2

  • 发明设计人 董乔华;姚翔;

    申请日2009-08-04

  • 分类号G11C29/00(20060101);G11C16/06(20060101);

  • 代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人孙大为

  • 地址 201206 上海市浦东新区川桥路1188号

  • 入库时间 2022-08-23 09:13:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-02-12

    专利权的转移 IPC(主分类):G11C 29/00 变更前: 变更后: 登记生效日:20140110 申请日:20090804

    专利申请权、专利权的转移

  • 2013-04-24

    授权

    授权

  • 2011-05-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/00 申请日:20090804

    实质审查的生效

  • 2011-03-23

    公开

    公开

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