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用于可配置扫描架构的测试设计优化器

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粗略地说，根据所考虑的电路设计来优化基于扫描的测试架构。在一个实施例中，形成多个候选测试设计。对于每一个候选测试设计来说，根据电路设计和候选测试设计而生成多个测试矢量，并且这些测试矢量优选是使用同一ATPG算法生成的，其中所述算法会在下游使用，以便生成用于制造集成电路器件的最终测试矢量。在这里为每一个候选测试设计都确定了故障覆盖率之类的测试协议质量量度，并且根据对这些测试协议质量量度所进行的比较来选择其中一个候选测试设计，以便在集成电路器件中加以实施。优选地，只有能被ATPG生成的完整测试矢量集合中的采样才被用于确定每一个特定候选测试设计所要发现的潜在故障的数量。

著录项

公开/公告号CN101815951B

专利类型发明专利
公开/公告日2013-09-04

原文格式PDF
申请/专利权人新思科技有限公司;
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申请/专利号CN200980000211.2
发明设计人 R·卡普尔;J·塞基阿;R·宇普鲁里;P·诺蒂雅斯;T·费尔南德斯;S·库尔卡尔尼;A·安巴兰;
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申请日2009-04-30
分类号
代理机构北京市金杜律师事务所;
代理人王茂华
地址美国加利福尼亚州
入库时间 2022-08-23 09:15:40

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2013-09-04

授权

授权
2011-09-07

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20090430

实质审查的生效
2010-08-25

公开

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