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宇航用元器件热环境适应性评价方法

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摘要

宇航用元器件热环境适应性评价方法，步骤如下：1：确定是否必须进行试验评价：根据元器件类别和应用要求等级确定是否必须进行热环境适应性验证试验；2：确定试验项目：对元器件的热敏感要素进行分析，综合分析后确定试验项目；3：确定试验应力水平：分析元器件在具体应用中所处的热环境应力水平，在此基础上确定试验应力水平；4：元器件热环境应用验证试验的实施；5：试验结果评价：根据确定的评价判据判断元器件在具体宇航产品中的适用性。本方法的优点有：评估试验更具合理性与针对性，可操作性强。

著录项

  • 公开/公告号CN102180272B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-11-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201110093803.2

  • 发明设计人 张文俊;付桂翠;万博;张素娟;范峥;

    申请日2011-04-14

  • 分类号

  • 代理机构北京慧泉知识产权代理有限公司;

  • 代理人王顺荣

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号可靠性与系统工程学院

  • 入库时间 2022-08-23 09:16:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-06-01

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):B64G 7/00 授权公告日:20131113 终止日期:20150414 申请日:20110414

    专利权的终止

  • 2013-11-13

    授权

    授权

  • 2012-07-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):B64G 7/00 申请日:20110414

    实质审查的生效

  • 2011-09-14

    公开

    公开

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