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一种使用激光传感器测量扬声器参数的方法及系统

摘要

本发明提出一种使用激光位移传感器测量扬声器参数的方法,并给出了实现该方法的测试系统。该方法采用步进扫频信号激励被测器件,同时测量了被测器件振膜的位移响应信号和流过被测器件的电流响应信号。将上述信号代入扬声器的线性模型和大信号沃特拉模型,通过系统辨识得到扬声器的线性参数和非线性参数。由于扬声器的线性参数和非线性参数可以表征扬声器在不同幅度输入下的工作特性,该方法不但可以应用于扬声器的设计验证、产品质量检测,还可以应用于扬声器产品的音质改善。

著录项

  • 公开/公告号CN102158793B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-12-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 嘉兴中科声学科技有限公司;

    申请/专利号CN201110083848.1

  • 申请日2011-04-02

  • 分类号H04R29/00(20060101);

  • 代理机构33200 杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人沈志良

  • 地址 314001 浙江省嘉兴市南湖区亚太路778号内5号楼

  • 入库时间 2022-08-23 09:17:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-12-18

    授权

    授权

  • 2011-09-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04R 29/00 申请日:20110402

    实质审查的生效

  • 2011-08-17

    公开

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