首页> 中国专利> 一种非接触式原子气室温度测量装置及测量方法

一种非接触式原子气室温度测量装置及测量方法

摘要

本发明提供的是一种非接触式原子气室温度测量装置及测量方法。利用加热双绞线对原子气室进行加热,开启并调节激光器,同时利用第一分束器分出的一小部分光搭建饱和吸收谱装置;利用第二分束器将激光分为检测光和参考光,调节第一衰减器、第二衰减器使两束激光光强相等,通过λ/4波片使检测光变为左旋圆偏振光,并使检测光通过原子气室;使用第一光电探测器和第一光电探测器对探测光及参考光进行光强探测,做差除和运算,并用数字万用表记录最后处理的结果。本发明可以取代原有磁传感器中采用热敏电阻、铜丝等测温的方法,消除测温探头本身的磁性影响。并且可以省去光陷阱的制作,提高激光光束利用率。

著录项

  • 公开/公告号CN102928110B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-03-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工程大学;

    申请/专利号CN201210402459.5

  • 申请日2012-10-22

  • 分类号G01K11/00(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室

  • 入库时间 2022-08-23 09:18:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-03-26

    授权

    授权

  • 2013-03-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01K 11/00 申请日:20121022

    实质审查的生效

  • 2013-02-13

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号