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极向磁光克尔谱和磁圆二向色性谱同步测量系统

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摘要

本发明公开了一种极向磁光克尔谱和磁圆二向色性谱同步测量系统，包括：液氦制冷机与低温超导磁体系统、超连续白光光源、单色仪、斩波器、两个格兰泰勒棱镜、光弹调制器、宽波段消偏振分光棱镜、消色差透镜、硅探测器、三台锁相放大器、以及计算机。利用本发明，可以同时测量样品的极化磁光克尔(KERR)谱和磁圆二向色性(MCD)谱，从而可以进一步研究物质的磁性质以及与自旋相关的能带结构和特性。

著录项

  • 公开/公告号CN102654450B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-06-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN201210150881.6

  • 发明设计人 黄学骄;

    申请日2012-05-15

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人宋焰琴

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2022-08-23 09:19:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-06-29

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/19 授权公告日:20140625 终止日期:20150515 申请日:20120515

    专利权的终止

  • 2014-06-25

    授权

    授权

  • 2012-10-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/19 申请日:20120515

    实质审查的生效

  • 2012-09-05

    公开

    公开

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