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一种测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置

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本发明提供一种测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置，该装置包括准直光源系统、分光镜、瞄准系统、低温真空仓、样品仓、双面旋转反射镜、电控旋转台和平行光管。当样品仓中温度降低时，样品的折射率会随着改变，偏向角δ也会有微小的变化Δδ，偏向角变化量可由平行光管测量出，从而得到低温下材料的折射率改变。本发明基于最常用的垂直入射法的，原理简单，操作方便，所测得样品棱镜可以是红外材料也可以是可见光波段的材料，应用范围广，用平行光管代替了一般测量用的编码器，平行光管测角度的微小变化准确度高，能很好的应用于测量低温下材料射率变化引起的偏向角的微小变化，降低了装置成本，提高了偏向角测量精度。

著录项

公开/公告号CN102830090B

专利类型发明专利
公开/公告日2014-10-22

原文格式PDF
申请/专利权人中国科学院光电技术研究所;
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申请/专利号CN201210305222.5
发明设计人倪磊;杨月英;廖胜;任栖峰;
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申请日2012-08-24
分类号G01N21/41(20060101);
代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;
代理人杨学明;李新华
地址 610209 四川省成都市双流350信箱
入库时间 2022-08-23 09:21:36

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2017-10-17

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/41 授权公告日:20141022 终止日期:20160824 申请日:20120824

专利权的终止
2014-10-22

授权

授权
2014-10-22

授权

授权
2013-02-06

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/41 申请日:20120824

实质审查的生效
2013-02-06

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/41 申请日:20120824

实质审查的生效
2012-12-19

公开

公开
2012-12-19

公开

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