首页> 中国专利> 一种非均匀Weibull杂波背景下的CFAR检测方法

一种非均匀Weibull杂波背景下的CFAR检测方法

摘要

本发明涉及一种非均匀Weibull杂波背景下的CFAR检测方法,其特征在于:该方法是基于一种M-N杂波边缘二元积累检测方法下的均匀参考单元选择方法,根据尺度参数和形状参数对M-N杂波边缘二元积累检测方法得到的数据进行分类编号,编号后选择与CUT编号相同的分辨单元作为参考窗来进行CFAR检测。

著录项

  • 公开/公告号CN103217673B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-11-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201310135897.4

  • 发明设计人 孔令讲;彭馨仪;张天贤;易伟;

    申请日2013-04-18

  • 分类号

  • 代理机构成都宏顺专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李顺德

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 09:22:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-06-01

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01S 7/41 授权公告日:20141105 终止日期:20150418 申请日:20130418

    专利权的终止

  • 2014-11-05

    授权

    授权

  • 2013-08-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 7/41 申请日:20130418

    实质审查的生效

  • 2013-07-24

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号