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超声速流场密度场的校准以及测量超声速密度场的方法

摘要

本发明提供了一种超声速流场密度场的校准方法,这种方法是基于NPLS技术,采用斜激波和膨胀波综合校准方法对超声速流场密度-NPLS图像灰度曲线进行校准。第一,将示踪粒子均匀散播到超声速来流中,CCD根据计算机的指令拍摄粒子图像;第二,在超声速风洞中的可连续调节攻角α的斜劈,通过改变斜劈攻角α,得到一组(ρi,Ii)(i=1,2,L,n-1)数据;第三,在超声速风洞中的放置膨胀波发生器,通过放置不同偏转角度的膨胀波发生器,得到另一组(ρi,Ii)(i=n,n+1,L,N)数据;第四,将上述两组数据进行多项式拟合,得到流场密度-NPLS图像灰度的关系曲线:ρ=a0+a1I+a2I2+a3I3+K。本发明旨在解决空间分辨率和信噪比较低、对低密度区的测量存在较大误差的技术问题。

著录项

  • 公开/公告号CN102706529B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-05-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国人民解放军国防科学技术大学;

    申请/专利号CN201210189662.9

  • 申请日2012-06-08

  • 分类号G01M9/00(20060101);

  • 代理机构11240 北京康信知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人吴贵明

  • 地址 410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号

  • 入库时间 2022-08-23 09:25:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-05-06

    授权

    授权

  • 2012-11-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 9/00 申请日:20120608

    实质审查的生效

  • 2012-10-03

    公开

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