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基于正弦波调制及一次谐波检测的光纤环本征频率测量装置及方法

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本发明公开了一种基于正弦波调制及一次谐波检测的光纤环本征频率测量装置及方法，该装置及方法采用正弦波施加调制，通过检测光纤环干涉输出信号中的一次谐波幅度来测得本征频率，其技术效果在于使用正弦波而不是方波施加调制，克服了方波调制带来的多种缺陷，并且检测的是输出信号一次谐波的幅度，可采用相关检测技术获得高的信噪比。

著录项

公开/公告号CN103616020B

专利类型发明专利
公开/公告日2016-01-06

原文格式PDF
申请/专利权人中国人民解放军国防科学技术大学;
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申请/专利号CN201310610990.6
发明设计人陈宇中;宋章启;张学亮;阳明晔;胡永明;孟洲;熊水东;
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申请日2013-11-26
分类号
代理机构长沙市融智专利事务所;
代理人欧阳迪奇
地址 410073 湖南省长沙市德雅路109号
入库时间 2022-08-23 09:33:23

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2018-11-09

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01C19/72 授权公告日:20160106 终止日期:20171126 申请日:20131126

专利权的终止
2016-01-06

授权

授权
2014-04-02

实质审查的生效 IPC(主分类):G01C19/72 申请日:20131126

实质审查的生效
2014-03-05

公开

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1. 基于正弦波调制及一次谐波检测的光纤环本征频率测量装置及方法 [P] . 中国专利： CN103616020B . 2016.01.06
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