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一种获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法

摘要

本发明是关于一种获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法及其应用。该获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法,包括:步骤1,将被测试样品制备为玻璃熔片,该玻璃熔片的稀释比为R;步骤2,对上述制备的玻璃熔片进行X荧光强度测定,得到样品中某元素的X荧光强度值I;步骤3,根据公式计算得到标准稀释比R

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-04-13

    授权

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  • 2014-07-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/223 申请日:20121226

    实质审查的生效

  • 2014-07-02

    公开

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