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电介物质介电系数微波测量探头及由其构成的测量装置

摘要

本实用新型公开了一种电介物质介电系数微波测量探头及由其构成的测量装置,所述电介物质介电系数微波测量探头包括同轴结构的外导体、内导体及位于内外导体之间的绝缘介质,探头插入待测介电系数物质的测试终端为斜切口结构,另一端设计有使探头接入测量系统的同轴接口。所述物质介电系数微波测量装置,包括以上所述结构的探头和盛装待测介电系数物质的密闭金属容器,所述密闭金属容器由容器罐体和容器罐盖构成,容器罐盖上设计有与探头外导体外柱面相匹配的插入孔。采用由本实用新型构成的微波测量系统测量物质介电系数,解决了现有技术微波测量装置测量物质介电系数精度不高,难以满足宽带在线测量要求的等问题。

著录项

  • 公开/公告号CN203732632U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2014-07-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 四川大学;

    申请/专利号CN201420074952.3

  • 申请日2014-02-21

  • 分类号

  • 代理机构成都科海专利事务有限责任公司;

  • 代理人吕建平

  • 地址 610065 四川省成都市武侯区一环路南一段24号

  • 入库时间 2022-08-22 00:11:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-04-05

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R27/26 授权公告日:20140723 终止日期:20160221 申请日:20140221

    专利权的终止

  • 2014-07-23

    授权

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