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一种用于刑事侦查的痕迹比对显微镜

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本实用新型涉及一种用于刑事侦查的痕迹比对显微镜，包括：基座；支撑架，底部与基座连接；还包括：两个载物台，分别安装在基座两边，分别用于放置两个待比对物件；两个物镜模块，设于支撑架两端且分别位于两个载物台上方，分别用于捕捉两个待比对物件的光学信号；目镜模块，设于支撑架上，包括两个分别与两个物镜模块连接的目镜。与现有技术相比，本实用新型具有两个载物台、两个物镜模块和两个目镜，因此可以使操作人员同时观察两个待比对的物件。

著录项

公开/公告号CN204666948U

专利类型实用新型
公开/公告日2015-09-23

原文格式PDF
申请/专利权人上海良相智能化工程有限公司;上海良相电子科技有限公司;
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申请/专利号CN201520141163.1
发明设计人陈晓群;陈家辉;陈卫东;向晓明;
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申请日2015-03-12
分类号
代理机构上海科盛知识产权代理有限公司;
代理人赵继明
地址 201199 上海市闵行区中春路4880号
入库时间 2022-08-22 00:49:39

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2015-09-23

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