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一种可消除杂散光及透射自身反射影响的分光光度计光路系统

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摘要

本实用新型属于仪器分析技术领域，涉及一种可消除杂散光及透射自身反射影响的分光光度计光路系统。所述的光路系统包括发射挡光罩、光电信号参比接收单元、光源、平凸透镜、样品池、光电信号透射接收单元、透射挡光罩，发射挡光罩将光源遮挡；依次排列的光源、平凸透镜、样品池、光电信号透射接收单元的中心点构成主光路，其中光源和平凸透镜连接安装在样品池的光入口端；光电信号参比接收单元设置在光源下方，其接收光线方向与主光路成90°直角关系；光电信号透射接收单元和透射挡光罩连接安装在样品池的光出口端。利用本实用新型，能够消除外界杂散光以及透射自身反射的影响，提高分光光度计的测量精度。

著录项

  • 公开/公告号CN206788029U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2017-12-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京华科仪科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201720376096.0

  • 发明设计人 阮小东;陈云龙;边宝丽;

    申请日2017-04-12

  • 分类号

  • 代理机构北京天悦专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人任晓航

  • 地址 100076 北京市大兴区西红门镇金业大街10号

  • 入库时间 2022-08-22 03:25:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-22

    授权

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