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易于检测的Frit线路结构及检测Frit是否异常的系统

摘要

本申请提供一种易于检测的Frit线路结构及检测Frit是否异常的系统,Frit下方的金属走线为多段式结构,每段金属走线的两端设有测量引线,测量引线引到端子区;检测时,用测量表连接每段金属走线的引线端子。本申请所述的一种检测Frit是否异常的系统,组成简单,测量结果稳定可靠。异常解析时可量测各金属段的Rs来判断金属及以下膜层有无断裂或裂痕;日常监控时可量测各金属段的Rs做参考判断Frit制程的稳定性。金属走线的异常判断过程快捷迅速。

著录项

  • 公开/公告号CN207652752U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2018-07-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海和辉光电有限公司;

    申请/专利号CN201720651124.5

  • 发明设计人 左文霞;

    申请日2017-06-07

  • 分类号

  • 代理机构北京品源专利代理有限公司;

  • 代理人胡彬

  • 地址 201506 上海市金山区金山工业区九工路1568号

  • 入库时间 2022-08-22 05:47:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-21

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H05K1/02 变更前: 变更后: 申请日:20170607

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2018-07-24

    授权

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