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一种氦氖激光器模式分析实验装置

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摘要

本实用新型提供一种氦氖激光器模式分析实验装置，所述实验平台上设有光学导轨，所述光学导轨上设有若干个与其相配合的滑动座，所述滑动座上依次设有CMOS相机、氦氖激光器、可变光阑、共焦球面干涉仪、准直镜、探测器，所述氦氖激光器的下方设有温度传感器，所述实验平台的内部设有锯齿波发生器、直流偏置电源和控制器，所述实验平台上设有开关和调节钮，所述温度传感器通过电线与控制器、开关、调节钮相连。本实用新型的有益效果是温度传感器实时监控激光器的温度，当温度升高有变化时，及时调整激光器的温度，避免产生误差，利用CMOS相机与探测器对于得出的频谱图与光斑图样，能够更加精确地鉴别分析数据，利用滑动座更便捷的调节位置，实验效果好。

著录项

  • 公开/公告号CN207703449U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2018-08-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 伊普希龙(天津)科技有限公司;

    申请/专利号CN201721586277.2

  • 发明设计人 王传龙;马学勇;王玉兴;

    申请日2017-11-23

  • 分类号

  • 代理机构天津市新天方有限责任专利代理事务所;

  • 代理人赵棕林

  • 地址 300384 天津市滨海新区高新区华苑产业区(环外)海泰南道28号C座6-101-2

  • 入库时间 2022-08-22 05:56:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-07

    授权

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