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一种干扰波产生单元、干扰测试读卡器及干扰测试系统

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本申请公开了一种干扰波产生单元、干扰测试读卡器及干扰测试系统，其中，干扰波产生单元包括高速DAC，以及分别与高速DAC连接的干扰产生MCU和高速运放。本申请达到了可以模拟物联网的运行环境，当智能卡运行的时候，在智能卡引脚上加入干扰波形，测试验证智能卡在有干扰信号的情况下的运行状况，为评估智能卡硬件、软件的健壮性、稳定性、抗干扰能力提供有效评估手段的技术效果。

著录项

公开/公告号CN208834307U

专利类型实用新型
公开/公告日2019-05-07

原文格式PDF
申请/专利权人恒宝股份有限公司;
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申请/专利号CN201821810560.3
发明设计人底明辉;张蔚;
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申请日2018-11-05
分类号
代理机构
代理人
地址 212355 江苏省镇江市丹阳市横塘工业区
入库时间 2022-08-22 09:05:25

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法律状态
2019-05-07

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