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基于射线符合测量的多相流全截面相分率测量装置

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摘要

本实用新型涉及一种基于射线符合测量的多相流全截面相分率测量装置，包括闪烁晶体和探测器，所述闪烁晶体与探测器耦接；所述的闪烁晶体为含有镥元素的闪烁晶体。本实用新型利用闪烁晶体的本征射线进行全截面测量，不但能够取消现有技术射线测量装置中的放射源，降低系统的成本，极大的提高系统的安全性和可靠性；同时，由于Lu‑176的半衰期为2.1×10

著录项

  • 公开/公告号CN209765061U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2019-12-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 无锡洋湃科技有限公司;

    申请/专利号CN201822274373.4

  • 发明设计人 陈继革;成正东;陈妙谋;徐斌;李敬阳;

    申请日2018-12-29

  • 分类号

  • 代理机构北京维正专利代理有限公司;

  • 代理人诸炳彬

  • 地址 214187 江苏省无锡市惠山经济开发区洛社配套区迎春路8号

  • 入库时间 2022-08-22 11:42:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-10

    授权

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