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用于全反射X射线荧光分析中的载样反射体清洗架

摘要

一种用于全反射X射线荧光分析中的载样反射体清洗架,包括:底部和凸起的边缘有刻槽、中央有螺孔的清洗架底,中央有圆孔的压板,用于固定压板和连接架底的头部带螺纹、中间凸起、尾部带手柄的连接压杆。本实用新型结构简单,将反射体垂直放入架底底部的刻槽,通过控制底部刻槽的长度使反射体仅部分进入,反射体会自动嵌入到边缘的刻槽,从而使反射体保持垂直不倒状态;反射体与清洗架形成一个整体,可以一起放入清洗液中进行清洗,而过程中反射体不会掉落,反射体互相之间不会摩擦和碰撞,保证反射体表面光洁度不会损害;架底刻槽是通透的,清洗完成后,清洗液易于去除;清洗架由聚四氟材料制作,可适用于各种清洗液。

著录项

  • 公开/公告号CN210304953U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-04-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 国家地质实验测试中心;

    申请/专利号CN201920820052.1

  • 发明设计人 詹秀春;樊兴涛;储彬彬;郭威;

    申请日2019-06-03

  • 分类号

  • 代理机构北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人汤东凤

  • 地址 100037 北京市西城区百万庄大街26号

  • 入库时间 2022-08-22 13:15:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-14

    授权

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