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8mm基片集成波导环行器失效率检测方法

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摘要

8mm基片集成波导环行器失效率检测方法，涉及微波器件技术领域。本发明包括下述步骤：1)确定SIW结构失效率λ

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2018-07-10

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01D 21/02 授权公告日:20160629 终止日期:20170618 申请日:20140618

专利权的终止
2016-06-29

授权

授权
2016-06-29

授权

授权
2015-02-04

实质审查的生效 IPC(主分类):G01D 21/02 申请日:20140618

实质审查的生效
2015-02-04

实质审查的生效 IPC(主分类):G01D 21/02 申请日:20140618

实质审查的生效
2015-01-07

公开

公开
2015-01-07

公开

公开

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1. 8mm基片集成波导环行器失效率检测方法 [P] . 中国专利： CN104266676B . 2016.06.29
2. 一种P波段基片集成波导环行器有效Q值的求解方法 [P] . 中国专利： CN112699537A . 2021-04-23
3. Substrate Integrated Waveguide Millimeter Wave Circulator [P] . 韩国专利： KR101914014B1 . 2018-12-28

机译：基片集成波导毫米波环行器
4. Failure rate prediction method, failure rate prediction program, semiconductor manufacturing device management method, and semiconductor device manufacturing method [P] . 日本专利： JP5342199B2 . 2013-11-13

机译：失效率预测方法，失效率预测程序，半导体制造装置管理方法以及半导体装置制造方法
5. The detergent Particle coated with perpendicular Dimensions X, y and Z, where X = 1 to 2mm and 8mm = 2 and Z = 2 to 8mm, which includes i) 40 to 90 by weight of Anionic or nonionic Surfactant, present as a Core, (ii) 1 to 40 of soluble inorganic salts (III) Water and 0.0001 to 0.1 Dye S both present as Coating. [P] . CL2013001026A1 . 2013-12-20

机译：用垂直尺寸X，y和Z涂覆的去污剂颗粒，其中X = 1至2mm和8mm = 2且Z = 2至8mm，其中包括i）40至90％重量的阴离子或非离子表面活性剂，以核形式存在;（ii）1至40％的可溶性无机盐（III）水和0.0001至0.1％的染料S均以涂层形式存在。