首页> 中国专利> 一种测量单摆测当地重力加速度的实验装置

一种测量单摆测当地重力加速度的实验装置

页面导航

摘要
著录项
相似文献

摘要

本实用新型提供一种测量单摆测当地重力加速度的实验装置，包括实验装置本体，所述实验装置本体包括底座、遥控器、计时计数仪和安装板，所述底座上焊接有支撑杆一和支撑杆二，所述支撑杆一和支撑杆二的顶部焊接有顶板，所述支撑杆一上设置有滑槽一，所述滑槽一的内部设置有激光发射端，所述顶板上设置有导轨，所述导轨的内部设置有悬挂装置，所述顶板的一侧设置有黑布筒，所述支撑杆二上设置有滑槽二，所述滑槽二的内部设置有激光接收端，所述激光接收端与激光发射端相配合，该测量单摆测当地重力加速度的实验装置通过内部的激光发射端和激光接收端对弹簧及球体的摆动进行检测，有效提高工作质量，保证数据的准确性。

著录项

公开/公告号CN211699399U

专利类型实用新型
公开/公告日2020-10-16

原文格式PDF
申请/专利权人宁波工程学院;
展开▼

申请/专利号CN201922469991.9
发明设计人何玉吉;汪金芝;梁卓凡;李青峰;钟秋波;鲍吉龙;郭建亮;
展开▼

申请日2019-12-31
分类号G09B23/10(20060101);
代理机构
代理人
地址 315016 浙江省宁波市江北区风华路201号
入库时间 2022-08-22 17:16:44

相似文献

专利
中文文献
外文文献

1. 一种测量单摆测当地重力加速度的实验装置 [P] . 中国专利： CN211699399U . 2020-10-16
2. 一种测量重力加速度的高精度单摆实验装置 [P] . 中国专利： CN210244779U . 2020.04.03
3. Mold apparatus Experiment apparatus for mold die measure and the measuring method [P] . 韩国专利： KR102047095B1 . 2019-11-20

机译：模具装置模具测模实验装置及测量方法
4. The measurement system to measure and store the data determined position related to the distribution of the thickness of material on areas contu00ecnuas chosen.Process for measuring the overall thickness distribution in the material of an object to be measured on the areas contu00ecnuas chosen.Apparatus for measuring overall thickness distribution in the material of an object to be measured over an area contu00ecnua chosen.Acoustic sensor to transmit and receive acoustic signals for measuring the thickness of the material, and,Systems for automatic positioning in a three dimensional propagation medium of acoustic signal uniform [P] . BR0010911A . 2002-02-19

机译：一种测量系统，用于测量和存储数据确定的位置，该位置与所选连续区域上的材料厚度分布有关。在所选连续区域上测量待测对象材料中整体厚度分布的过程。用于在选定的连续区域上测量待测物体的材料中整体厚度分布的设备。声传感器，用于发送和接收用于测量材料厚度的声信号，以及用于在三维空间自动定位的系统声信号传播介质均匀
5. Method for measuring shape of optical surface of test object by measuring device, involves arranging test object on object holder, setting multiple measurement configuration, and interferometric measuring area of optical surface [P] . 德国专利： DE102013212492A1 . 2014-07-03

机译：一种利用测量装置测量被测物体光学表面形状的方法，包括将被测物体布置在物体支架上，设置多种测量配置，以及光学表面的干涉测量面积