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垂直式表面粗糙度测头及表面粗糙度仪

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本实用新型公开了一种垂直式表面粗糙度测头及表面粗糙度仪，垂直式表面粗糙度测头包括固定架、移动架、位移测量模块、针杆、触针和导向装置，移动架竖向滑动连接于固定架上，移动架上设置针杆，移动架的底板上设有导向装置，导向装置能够用于对针杆进行竖向导向以防止针杆摆动，针杆的底端固定设置有触针，针杆穿过导向装置，触针贯穿移动架的底板，位移测量模块用于测量针杆竖直方向上的移动距离；表面粗糙度仪包括架体、移动装置和上述的垂直式表面粗糙度测头。本实用新型中，触针与针杆在导向装置的作用下，测量过程中始终与工件表面垂直，操作简便、测量精准程度高。

著录项

公开/公告号CN212158499U

专利类型实用新型
公开/公告日2020-12-15

原文格式PDF
申请/专利权人中国计量科学研究院;
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申请/专利号CN202020564296.0
发明设计人张树;施玉书;皮磊;史舟淼;高思田;李伟;李琪;李适;黄鹭;
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申请日2020-04-16
分类号G01B11/30(20060101);G01B5/14(20060101);G01L1/26(20060101);
代理机构11569 北京高沃律师事务所;
代理人张德才
地址 100029 北京市朝阳区北三环东路18号
入库时间 2022-08-22 18:34:47

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