首页> 中国专利> 一种超连续白光发生器及包含其的界面电子态结构测定系统

一种超连续白光发生器及包含其的界面电子态结构测定系统

摘要

本实用新型提供一种超连续白光发生器,所述超连续白光发生器包括沿光路依次设置的望远镜系统和超薄晶体阵列,其中,用超薄晶体薄片作展宽介质,能够实现飞秒光在超薄晶体薄片中的自相位调制非线性效应,产生功率高、色散小和稳定性高的550~1100nm的超连续白光;本实用新型还提供了将所述超连续白光发生器与基频光发生装置相结合的界面电子态结构测定系统,所述测定系统可检测340~440nm和550~1100nm波长范围,覆盖了紫外、可见光和近红外波段功能的电子态和频光谱,应用在表征领域,能够得到样品表面的电子态共振信息,具有较高的研究应用价值。

著录项

  • 公开/公告号CN214427270U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-10-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院过程工程研究所;

    申请/专利号CN202120444726.X

  • 申请日2021-03-01

  • 分类号G01N21/25(20060101);G01N21/31(20060101);G01N21/35(20140101);G01N21/39(20060101);G01J3/10(20060101);

  • 代理机构11332 北京品源专利代理有限公司;

  • 代理人巩克栋

  • 地址 100190 北京市海淀区中关村北二条1号

  • 入库时间 2022-08-23 01:04:26

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号