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基于高光谱技术的叶片滞尘量测定系统

摘要

本实用新型提供一种基于高光谱技术的叶片滞尘量测定系统,包括清洗装置、烘干装置及测试装置,还包括传送装置,叶片放置在传送装置上,传送装置输送叶片依次经过清洗装置、烘干装置及测试装置。本实用新型中,清洗装置、烘干装置和测试装置能够对叶片进行清洗、烘干及测试,过程中无需人工参与,减少了人为因素的影响,提升植被叶片滞尘量测试的效率,提高了测定精度,解决叶片滞尘量测试费时费力,数据变异性大等问题。

著录项

  • 公开/公告号CN214794414U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-11-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京市园林科学研究院;

    申请/专利号CN202120716722.2

  • 申请日2021-04-08

  • 分类号G01N21/01(20060101);G01N21/27(20060101);

  • 代理机构11002 北京路浩知识产权代理有限公司;

  • 代理人李青

  • 地址 100102 北京市朝阳区花家地甲7号

  • 入库时间 2022-08-23 02:04:18

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