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一种棱线测量装置

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本实用新型公开一种棱线测量装置，包括固定机构、测量机构、立柱，固定机构用于固定待测量组件，立柱设于待测量组件的一侧，测量机构包括测量框架和棱线测量单元，测量框架安装在立柱上，棱线测量单元包括测量底座、测量驱动组件、激光位移传感器、光栅尺测量组件，测量底座固定在测量框架上，测量驱动组件固定在测量底座上，激光位移传感器安装于测量驱动组件上，通过测量驱动组件带动激光位移传感器靠近待测量组件，以测量待测量组件在该截面高度的棱线数据，光栅尺测量组件，用于读取激光位移传感器的位置。所述棱线测量装置在测量时无需与待测量组件进行接触，有效地避免了对待测量组件的损伤。

著录项

公开/公告号CN215217499U

专利类型实用新型
公开/公告日2021-12-17

原文格式PDF
申请/专利权人中国核电工程有限公司;
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申请/专利号CN202121443305.1
发明设计人杨明伟;江保军;鲍景明;徐阵涛;苗顺占;
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申请日2021-06-28
分类号G01B11/00(20060101);G01B11/02(20060101);G01B11/24(20060101);
代理机构11112 北京天昊联合知识产权代理有限公司;
代理人罗建民;邓伯英
地址 100840 北京市海淀区西三环北路117号
入库时间 2022-08-23 03:26:17

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