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一种同步辐射高压单晶衍射方法

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本发明公开了一种同步辐射高压单晶衍射方法，其包括入射光限光及强度监测、样品定位与旋转、二维探测器数据采集、探测数据指标化和衍射强度校正等步骤，该实验方法可以得到单晶样品在压力条件下的准确强度信息，为后续结构测定及精修、高压相变研究、无公度结构测定、电荷密度测量等研究工作创造良好条件。

著录项

公开/公告号CN104374788B

专利类型发明专利
公开/公告日2017-02-08

原文格式PDF
申请/专利权人中国科学院高能物理研究所;北京工业大学;
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申请/专利号CN201410079911.8
发明设计人李晓东;李晖;刘景;李延春;
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申请日2014-03-06
分类号
代理机构北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人汤东凤
地址 100049 北京市石景山区玉泉路19号(乙)
入库时间 2022-08-23 09:51:55

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-03-01

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 23/207 授权公告日:20170208 终止日期:20180306 申请日:20140306

专利权的终止
2017-02-08

授权

授权
2017-02-08

授权

授权
2015-03-25

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/207 申请日:20140306

实质审查的生效
2015-03-25

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/207 申请日:20140306

实质审查的生效
2015-02-25

公开

公开
2015-02-25

公开

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