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一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法

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摘要

本发明公开了一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法，涉及可编程逻辑器件技术，用于分析评价FPGA测试配置的完备性。本发明方法结合FPGA的结构特点，首先建立FPGA的配置词典；然后采用模板化的方法分析测试配置，计算测试配置对配置词典的覆盖率；最后根据计算的覆盖率评价测试配置的完备性。通过本发明提出的方法，无需故障仿真就能对FPGA的测试配置进行快速的分析评价：分析测试配置所有可测和不可测的FPGA资源，评价测试配置的完备性，从而可以指导FPGA测试配置的改进，提高FPGA测试配置的开发效率。

著录项

  • 公开/公告号CN102830345B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-03-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院电子学研究所;

    申请/专利号CN201110161031.1

  • 发明设计人 杨海钢;周发标;秋小强;王飞;

    申请日2011-06-15

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人周国城

  • 地址 100190 北京市海淀区北四环西路19号

  • 入库时间 2022-08-23 09:53:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-22

    授权

    授权

  • 2013-02-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/3185 申请日:20110615

    实质审查的生效

  • 2012-12-19

    公开

    公开

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