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一种缺陷处理方法及缺陷处理装置

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摘要

本发明公开了一种缺陷处理方法，包括：通过SDDL‑EXP，生成语法类缺陷模式；其中，所述SDDL‑EXP为预定的值相关缺陷模式语言；根据所述语法类缺陷模式，在被测代码中查找检测点，并将所述语法类缺陷模式中的缺陷发生的条件实例化；根据预设的规范化策略，将所述被测代码中的变量及表达式进行转换；对转换后的被测代码进行后向的数据流分析，根据实例化的条件验证在所述检测点处是否有缺陷发生。本发明还同时公开了一种缺陷处理器。采用本发明的技术方案，能够便捷地扩充与用户相关的缺陷模式，并且通过该缺陷模式进行有效的缺陷检测，提升了用户的体验。

著录项

  • 公开/公告号CN103559127B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-03-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京邮电大学;

    申请/专利号CN201310516392.2

  • 发明设计人 王雅文;宫云战;金大海;黄俊飞;王前;

    申请日2013-10-28

  • 分类号

  • 代理机构北京派特恩知识产权代理有限公司;

  • 代理人张振伟

  • 地址 100876 北京市海淀区西土城路10号

  • 入库时间 2022-08-23 09:54:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-29

    授权

    授权

  • 2014-03-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20131028

    实质审查的生效

  • 2014-02-05

    公开

    公开

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