首页> 中国专利> 绝对重力仪中光速有限效应的双光路测试装置

绝对重力仪中光速有限效应的双光路测试装置

摘要

本发明公开了一种绝对重力仪中光速有限效应的双光路测试装置,包括:隔振平台、支撑结构、第一激光干涉仪、第一参考棱镜、落体真空腔、对顶双棱镜形成的落体结构、第二激光干涉仪、第二参考棱镜;其中第一参考棱镜和第二参考棱镜刚性连接;当对顶双棱镜形成的落体在落体真空腔中自由下落时,会在第一激光干涉仪和第二激光干涉仪中分别形成干涉信号,通过探测器分别探测两套激光干涉仪的干涉信号,由于光速有限效应在两套干涉仪中的作用效果是相反的,而重力加速度、振动噪声和其他噪声等对两套激光干涉仪的作用效果是相同的,是共模信号,因此通过数据处理实现两套激光干涉仪信号的差分测量,就可以直接测量绝对重力仪中光速有限效应的大小。

著录项

  • 公开/公告号CN104765075B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-04-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院测量与地球物理研究所;

    申请/专利号CN201510165558.X

  • 发明设计人 田蔚;张为民;钟敏;吴晓敏;胡明;

    申请日2015-04-09

  • 分类号

  • 代理机构武汉东喻专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人宋业斌

  • 地址 430077 湖北省武汉市徐东大街340号

  • 入库时间 2022-08-23 09:55:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-04-19

    授权

    授权

  • 2015-08-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V 13/00 申请日:20150409

    实质审查的生效

  • 2015-07-08

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号