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一种在GaN衬底上同质外延生长的方法

摘要

本发明公开了一种在GaN衬底上同质外延生长的方法,利用环状图形掩膜侧向外延实现氮化镓(GaN)衬底上同质外延生长,该方法能够获得比较完美的GaN外延层,可有效降低位错密度,该外延层位错密度可以达到10

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    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-05-17

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  • 2015-03-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/02 申请日:20140909

    实质审查的生效

  • 2015-02-11

    公开

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