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一种Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置及其Y波导偏振串音识别与处理方法

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本发明设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置及其Y波导偏振串音识别与处理方法。Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置，包括高偏振宽谱光源、待测集成波导调制器即Y波导、双通道光耦合装置、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置，双通道光耦合装置第一输入端，第一输入端连接Y波导第一通道输出端、第二通道输出端，将两个通道的光信号合并为一路，由输出端输出送入光程解调装置。该测试装置使Y波导的测试更加简便易行，其装置将待测试器件的两个输出通道光信号耦合为一路，然后仅仅用一套解调干涉仪即可实现双通道性能同时测量。这很好保证了测试的一致性，提高了测试精度。

著录项

公开/公告号CN104280216B

专利类型发明专利
公开/公告日2017-05-24

原文格式PDF
申请/专利权人哈尔滨工程大学;
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申请/专利号CN201410535202.6
发明设计人杨军;柴俊;戴明哲;李创;闫德凯;吴冰;彭峰;苑勇贵;苑立波;
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申请日2014-10-11
分类号
代理机构
代理人
地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室
入库时间 2022-08-23 09:55:58

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2017-05-24

授权

授权
2015-02-11

实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20141011

实质审查的生效
2015-01-14

公开

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1. 一种Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置及其Y波导偏振串音识别与处理方法 [P] . 中国专利： CN104280216B . 2017.05.24
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