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一种基于正交试验的漏磁检测系统的磁路优化设计方法

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本发明公开了一种基于正交试验的漏磁检测系统的磁路优化设计方法，该方法包括设计磁路仿真模型、编写仿真程序、设计影响因子水平表并生成正交试验表、执行仿真程序并得到仿真结果、计算漏磁信号、进行相关数据统计分析、得到最优磁路设计等步骤。本发明结合漏磁检测系统磁路优化设计，基于大量数学分析和仿真，提出了一种新的磁路优化方法，其能够在有限的试验次数获得与遍历试验相似的试验结果，节省了计算时间和大规模的数据处理，提高了磁路优化的准确性和效率。

著录项

公开/公告号CN104008251B

专利类型发明专利
公开/公告日2017-06-13

原文格式PDF
申请/专利权人北京华航无线电测量研究所;
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申请/专利号CN201410259480.3
发明设计人高雯;郑莉;许振丰;徐玉峰;
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申请日2014-06-12
分类号G06F17/50(20060101);
代理机构11386 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人胡时冶;白海燕
地址 100013 北京市东城区和平里南街3号
入库时间 2022-08-23 09:57:23

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2017-06-13

授权

授权
2014-09-24

实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20140612

实质审查的生效
2014-08-27

公开

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