首页> 中国专利> 基于信度规则库推理的集成电路参数成品率估计方法

基于信度规则库推理的集成电路参数成品率估计方法

摘要

本发明涉及一种基于信度规则库推理的集成电路参数成品率估计方法,属于集成电路设计与制造领域。本发明利用信度规则库(BRB)建模集成电路参数变量输入与成品率输出之间的映射关系。利用信度规则前项属性的参考值、后项属性的信度结构,建模输入和输出量之间的变化关系。构造优化函数,利用有限的训练样本优化信度规则库中的参数。在给定电路参数变量作为信度规则库输入的情况下,通过规则推理,能够精确和快速地估计出集成电路的成品率。与普遍采用的传统蒙特卡洛采样估计方法相比,所提出的估计方法大大节省了计算成品率的时间花销,提高了电路设计的效率。

著录项

  • 公开/公告号CN103955580B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-08-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州电子科技大学;

    申请/专利号CN201410184786.7

  • 发明设计人 徐晓滨;刘征;张镇;文成林;

    申请日2014-05-04

  • 分类号G06F17/50(20060101);

  • 代理机构33240 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人杜军

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街

  • 入库时间 2022-08-23 09:59:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-08-15

    授权

    授权

  • 2014-08-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20140504

    实质审查的生效

  • 2014-08-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20140504

    实质审查的生效

  • 2014-07-30

    公开

    公开

  • 2014-07-30

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号