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一种利用分膜堆方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法

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摘要

本发明公开了一种利用分膜堆方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法，其包括以下工艺步骤：a、实测有偏差的分光曲线及数据；b、利用TFC薄膜膜系设计软件打开原设计程序，保存原设计曲线、各膜层参数并删除原目标设定数据；c、导入实测数据并显示新目标分光曲线；d、利用分组功能按照膜堆结构进行分组；e、保留一组未锁定而其他组锁定，利用组优化功能进行优化，以确定导致分光曲线偏差的组；f、对导致分光曲线偏差的组重新分组，并按照步骤e的方式再次判断导致分光曲线偏差的组；g、按照步骤f逐渐缩小范围并最终判断导致分光曲线偏差的膜层。本发明能够有效且快速地找出造成偏差的原因，从而有利于确定生产加工改善的方向并纠正偏差。

著录项

  • 公开/公告号CN104777611B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-09-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东莞市微科光电科技有限公司;

    申请/专利号CN201510197553.5

  • 发明设计人 邢德华;赵才义;

    申请日2015-04-24

  • 分类号

  • 代理机构北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人肖平安

  • 地址 523000 广东省东莞市南城区三元里社区三元里澎峒工业区第四栋第一层前部分

  • 入库时间 2022-08-23 10:00:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-09-05

    授权

    授权

  • 2015-08-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B 27/00 申请日:20150424

    实质审查的生效

  • 2015-08-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B 27/00 申请日:20150424

    实质审查的生效

  • 2015-07-15

    公开

    公开

  • 2015-07-15

    公开

    公开

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