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用于细颗粒测量设备的层流监控方法、细颗粒分析方法以及细颗粒测量设备

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提供了能够自动地确定在流动通道中的层流的液体馈送状态以确保数据可靠性的技术。提供了用于细颗粒测量设备的层流监控方法，该方法包括：照射层流的照射步骤；通过检测器接收S偏振成分并且在检测器中获取S偏振成分的光接收位置信息的位置检测步骤，该S偏振成分从由层流产生的散射光分离并被施加像散；以及基于光接收位置信息确定层流的状态的确定步骤。

著录项

公开/公告号CN104508455B

专利类型发明专利
公开/公告日2017-10-03

原文格式PDF
申请/专利权人索尼公司;
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申请/专利号CN201380040889.X
发明设计人新田尚;
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申请日2013-06-05
分类号
代理机构北京康信知识产权代理有限责任公司;
代理人余刚
地址日本东京
入库时间 2022-08-23 10:01:26

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2017-10-03

授权

授权
2015-07-22

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/14 申请日:20130605

实质审查的生效
2015-07-22

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/14 申请日:20130605

实质审查的生效
2015-04-08

公开

公开
2015-04-08

公开

公开

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