公开/公告号CN104183482B
专利类型发明专利
公开/公告日2017-10-27
原文格式PDF
申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;
申请/专利号CN201410356956.5
申请日2014-07-24
分类号
代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人王宏婧
地址 201203 上海市浦东新区张江开发区高斯路568号
入库时间 2022-08-23 10:02:21
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-10-27
授权
授权
2014-12-31
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/3213 申请日:20140724
实质审查的生效
2014-12-31
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/3213 申请日:20140724
实质审查的生效
2014-12-03
公开
公开
2014-12-03
公开
公开
机译: 用于制造半导体存储器件的方法,该方法包括硅化一部分铂族层以形成硅化物区域并选择性地去除硅化物区域以限定电容器的底部电极
机译: 一种扩大尺寸的结构中形成硅化物,锗化物或锗硅化物的方法的方法和扩大工艺窗口的方法
机译: 一种扩大尺寸的结构中形成硅化物,锗化物或锗硅化物的方法的方法和扩大工艺窗口的方法