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基于二维光子晶体负折射效应的亚波长成像器件

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摘要

本发明涉及一种基于二维光子晶体负折射效应的亚波长成像器件，由两块内部结构相同的光子晶体左右放置组成，光线经过右边光子晶体的负折射后，出射汇聚到两光子晶体之间，接着光线继续入射到左边光子晶体，再经历一次负折射后，汇聚到左边光子晶体下方一点，为亚波长成像点，亚波长成像点与入射点光源在同一水平线上，实现了180°成像。器件结构非常简单，体积小巧，性能稳定可靠，适合特定的亚波长成像系统中。通过对光子晶体边缘空气孔半径进行一定比例的切除处理，可以极大地提高能量透过率。相比添加复杂的衍射光栅，切除更加易于加工制造。器件无需花费精力去调整复杂的光路，固定器件之后，整个成像过程中也不需要人为调整任何参数设置。

著录项

  • 公开/公告号CN105938207B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-11-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海理工大学;

    申请/专利号CN201610530520.2

  • 发明设计人 梁斌明;马宏亮;庄松林;

    申请日2016-07-07

  • 分类号G02B1/00(20060101);

  • 代理机构31001 上海申汇专利代理有限公司;

  • 代理人吴宝根

  • 地址 200093 上海市杨浦区军工路516号

  • 入库时间 2022-08-23 10:03:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-03

    授权

    授权

  • 2016-10-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B 1/00 申请日:20160707

    实质审查的生效

  • 2016-10-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B 1/00 申请日:20160707

    实质审查的生效

  • 2016-09-14

    公开

    公开

  • 2016-09-14

    公开

    公开

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