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基于矢量网络分析仪的光器件S参数测量系统及方法

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本发明公开了一种基于矢量网络分析仪的光器件S参数测量系统及方法。本发明适用于高速光器件S参数测量，且在S参数测量时，只需要对矢量网络分析仪进行双端口电校准，无需进行光校准，简化了校准过程；将矢量网络分析仪与光波控制模块连接带来的误差综合考虑，建立适用于测量系统的新误差模型，提高了系统的精度；光器件S参数的计算只需在矢量网络分析仪测得结果的基础上进行简单计算，算法简单；采用射频开关控制信号流向，增加了矢量网络分析仪端口的利用率。与现有技术相比，本发明测量系统集成度高，测量方法操作简易、计算简单且精度高。

著录项

公开/公告号CN104849585B

专利类型发明专利
公开/公告日2017-12-01

原文格式PDF
申请/专利权人中国电子科技集团公司第四十一研究所;
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申请/专利号CN201510179432.8
发明设计人王瑞霞;王广彪;魏石磊;张志辉;
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申请日2015-04-16
分类号G01M11/00(20060101);
代理机构37205 济南舜源专利事务所有限公司;
代理人王连君
地址 266555 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号
入库时间 2022-08-23 10:04:00

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-03-19

专利权的转移 IPC(主分类):G01M11/00 登记生效日:20190228 变更前: 变更后: 申请日:20150416

专利申请权、专利权的转移
2017-12-01

授权

授权
2015-09-16

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/00 申请日:20150416

实质审查的生效
2015-08-19

公开

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