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一种基于两条DFT复数谱线的信号相位测量方法

摘要

本发明涉及一种基于两条DFT复数谱线的信号相位测量方法,属于信号参数测量技术领域。本发明的特征在于其处理步骤包含:将采样信号经过加窗处理后进行DFT变换,查找对应待测信号频率附近的两条复数谱线,基于两条谱线的复数值通过直接推导公式、或逼近多项式公式计算出中间参数,最终的幅值测量结果等于中间参数的模。本发明直接基于谱线复数进行计算,无需对每条谱线取模,减少了计算量,而且计算过程能够抵消其他频率信号的旁瓣干扰,提高了测量精度。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-15

    授权

    授权

  • 2017-01-04

    专利申请权的转移 IPC(主分类):G01R25/00 登记生效日:20161216 变更前: 变更后: 申请日:20141203

    专利申请权、专利权的转移

  • 2015-10-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R25/00 申请日:20141203

    实质审查的生效

  • 2015-09-16

    公开

    公开

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