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一种基于中子平均能量的次临界系统次临界度测量方法

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本发明提供一种基于中子平均能量的次临界系统次临界度测量方法，其包括：在堆芯布置单个或多个探测器，测量探测器位置所有中子的平均能量；通过SuperMC等程序或替代燃料等实验方法，得到探测器位置处外源中子和裂变中子各自的平均能量；通过SuperMC等程序计算外源中子相对裂变中子的中子价值；利用得到的外源中子平均能量、裂变中子平均能量和外源中子价值，从探测得到的所有中子平均能量计算得到待测的次临界度；也可以在测量之前得到中子平均能量与次临界度的刻度曲线，对于待测状态，在测得所有中子平均能量之后，利用刻度曲线得到待测状态的次临界度；在上述过程中的测量或计算中子平均能量过程，只测量或计算高能部分中子，可以显著提高测量精度。

著录项

公开/公告号CN104898155B

专利类型发明专利
公开/公告日2018-03-27

原文格式PDF
申请/专利权人中国科学院合肥物质科学研究院;
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申请/专利号CN201510274557.9
发明设计人杨英坤;常博;刘超;孙燕婷;张振宇;
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申请日2015-05-26
分类号
代理机构北京科迪生专利代理有限责任公司;
代理人杨学明
地址 230031 安徽省合肥市蜀山湖路350号
入库时间 2022-08-23 10:09:20

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2018-03-27

授权

授权
2018-03-09

著录事项变更 IPC(主分类):G01T3/00 变更前: 变更后: 申请日:20150526

著录事项变更
2015-10-07

实质审查的生效 IPC(主分类):G01T3/00 申请日:20150526

实质审查的生效
2015-09-09

公开

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1. 一种基于中子平均能量的次临界系统次临界度测量方法 [P] . 中国专利： CN104898155B . 2018.03.27
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